X射線光電子能譜(AXIS ULTRA DLD)
儀器名稱 | X射線光電子能譜 ( AXIS ULTRA DLD ) |
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型號 | 日本島津-Kratos公司 AXIS ULTRA DLD | |
主要規(guī)格 及技術指標 | 1. 大束斑slot模式下能量分辨率：優(yōu)于0.48 eV/(Ag 3d5/2)@400 kcps； 2. 最小15μm分析區(qū)域下能量分辨率：優(yōu)于0.50 eV/(Ag 3d5/2)@0.65 kcps； 3. 110μm分析區(qū)域下能量分辨率：優(yōu)于0.50 eV/(Ag 3d5/2)@75 kcps； 4. 荷電中和系統(tǒng)：優(yōu)于0.68 eV/(PET上O-C=O的C 1s)@15 kcps； 5. 空間分辨率：優(yōu)于3 μm。 | |
材料要求 | 塊體試樣兩面盡量平整，易于放置在樣品臺上，尺寸小于15*15 mm2，厚度小于4mm；粉末試樣顆粒小，易于壓片或貼在膠帶。 | |
主要功能 及應用范圍 | 主要功能：利用光電效應的原理，測量輻射源（光子、電子、離子等）從樣品上打出來的光電子的動能、強度及其角分布，從而研究原子、分子、聚集相，尤其是固體表面的電子結構等。 應用范圍：用于各種有機和無機固體材料的表面元素和其價態(tài)的定性、定量分析，表面元素的化學成像及深度剖析。 | |
測試項目 | 300元/樣 （5元素內，超出加收50-100元，注：5元素中包括C） 其它要求另外商談。 | |
